Приборы, применяемые для контроля толщины покрытий

Главная » Архив библиотека » Прочее » Приборы, применяемые для контроля толщины покрытий

согласно ГОСт 9.302-88

Примечания:

Допускается применять приборы для контроля других видов покрытий при обеспечении требуемой точности измерений.
Допускается использовать различные приспособления и технологическую оснастку для повышения производительности контроля.

Наименование и тип прибора	Техническая характеристика	Область применения
Магнитный толщиномер МТ-41НЦ (магнитоиндукционный)	Диапазон измерений:	Измерение немагнитных покрытий на ферромагнитных металлах
	I 4-22 мкм;
	II 20-220 мкм;
	III 0,2-2,0 мм
	Погрешность измерений:
	I ± 0,05 Н+1 мкм;
	II ± 0;05 H+2 мкм;
	III ± 0,05 H+10 мкм,
	где Н толщина покрытия, мкм
	Шероховатость поверхности:
	I - не более Ra 1,25;
	II, III - не более Rz 20
	Индикация цифровая
Магнитный толщиномер МТА-2М (магнитоотрывной)	Диапазон измерений от 0 до 300 мкм	Измерение немагнитных покрытий на ферромагнитных металлах
	Погрешность измерений при толщине покрытия:
	до 30 мкм - ± 1,5 мкм;
	свыше 30 мкм - ± 5 %
	Шероховатость поверхности при толщине покрытия:
	до 30 мкм - не более Rа 1,25;
	свыше 30 мкм - не более Rz 20
	Индикация стрелочная
Магнитный толщиномер МТА-3 (магнитоотрывной)	Диапазон измерений от 1 до 20 мкм	Измерение никелевых и кобальтовых покрытий на немагнитных металлах
	Погрешность измерений ±1,5 мкм
	Шероховатость поверхности не более Rа 1,25
	Индикация стрелочная
Вихретоковый толщиномер ВТ-10НЦ	Диапазон измерений:	Измерение нетокопро-водящих покрытий на неферромагнитных металлах
	I 0-200 мкм;
	II 0-2,0 мкм
	Погрешность измерений ± (0,04 А+1) мкм, где А - верхний предел измерений данного поддиапазона
Вихретоковый толщиномер ВТ-17Н	Диапазон измерений:	Измерение кадмиевых, цинковых и никелевых покрытий на ферромагнитных металлах
	± (0,05 Н+1) мкм, где Н - толщина покрытия
	Шероховатость поверхности не более Rz 40
	Индикация стрелочная
	Шероховатость поверхности:
	I - не более Rа 1,25
	II - не более Rz 20
	Индикация цифровая
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1А (вихретоковый)	Диапазон измерений от 0 до 30 мкм	Измерение кадмиевых, цинковых, никелевых покрытий на ферромагнитных металлах
	Погрешность измерений
	± (0,05 Н+1) мкм, где Н - толщина покрытия
	Шероховатость поверхности не более Rz 80
	Индикация стрелочная
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1Б (вихретоковый)	Диапазон измерений от 0 до 50 мкм	Измерение медных и серебряных покрытий на ферромагнитных металлах
	Погрешность измерений
	± (0,05 Н+1) мкм, где Н - толщина покрытия
	Шероховатость поверхности не более Rz 80
	Индикация стрелочная
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-1М (вихретоковый)	Диапазон измерений кадмиевых, цинковых, никелевых, серебряных покрытий от 0 до 30 мкм, медных от 0 до 50 мкм
	Погрешность измерений
	± (0,05 Н+1) мкм, где Н - толщина покрытия
	Шероховатость поверхности не более Rz 80
	Индикация стрелочная
Измеритель толщины гальванических покрытий ИТГП-21 (вихретоковый)	Диапазон измерений от 3 до 30 мкм	Измерение серебряных покрытий на медных сплавах
	Погрешность измерений
	± (0,1 Н+1) мкм, где Н - толщина измеряемого покрытия
	Шероховатость поверхности не более Rz 40
	Индикация стрелочная
Радиоизотопный толщиномер выборочного контроля РТВК-2К (обратного излучения бета-рассеяния)	Погрешность измерения ± 10 %	Измерение металлических и неметаллических покрытий на металлических и неметаллических материалах
	Источник бета-излучения:
	прометий-147 (БИП-М),
	таллий-204 (БИТ-М),
	стронций-90+иттрий-90
	Индикация цифровая
Кулонометрический толщиномер Лимеда ДЕМ	Диапазон измерений от 0 до 50 мкм	Измерение металлических, в том числе многослойных покрытий на металлических и неметаллических материалах
	Погрешность измерения ± 7 %
	Индикация цифровая
Микроскоп металлографический агрегатный МЕТАМ-Р1	Увеличение 50 - 507´Комплект для запрессовки шлифа	Изучение и фотографирование микроструктуры металлов в отраженном и поляризованном свете, измерение толщины покрытий
Микроскоп металлографический рабочий ММР-4	Увеличение 50 - 1600´

Поставщики и производители

Наука и образование

Литература и нормативные документы

Приборы, применяемые для контроля толщины покрытий

События

Портал

Контактная информация